飛行時(shí)間質(zhì)譜儀(TOF-MS)是一種用于氣相、液相和固相樣品分析的高分辨率質(zhì)譜儀。TOF-MS是基于離子在時(shí)間和空間上的飛行時(shí)間(TOF)和質(zhì)量-電荷比(m/z)比率的原理來(lái)工作的。分析過(guò)程分為游離和檢測(cè)兩個(gè)階段。在游離階段，樣品通過(guò)電離源被電離成離子，并加速成為高能離子。這些離子隨后進(jìn)入質(zhì)譜儀的游離區(qū)，其中包含了一個(gè)電場(chǎng)，在該電場(chǎng)中離子加速到所需能量。因?yàn)椴煌碾x子具有不同的m/z比率，所以它們將具有不同的速度。
 

　　一旦離子被加速到足夠高能量，它們將進(jìn)入飛行區(qū)域。在該區(qū)域，這些離子以不同的速度到達(dá)檢測(cè)器。根據(jù)m/z比率的不同，離子將到達(dá)檢測(cè)器的不同位置，越重的離子擁有更長(zhǎng)的TOF。檢測(cè)器會(huì)在到達(dá)時(shí)記錄離子的信號(hào)。TOF-MS記錄到達(dá)檢測(cè)器的每個(gè)離子的TOF，并將其轉(zhuǎn)換為m/z比率。TOF-MS按照m/z比率展示離子的信號(hào)在m/z比率的質(zhì)譜圖上。這種TOF-MS技術(shù)的一個(gè)主要優(yōu)點(diǎn)是其高靈敏度、高分辨率和高速率的分析。這種技術(shù)也可以與其他技術(shù)如液相色譜(LC)、氣相色譜(GC)和原子吸收光譜(AAS)結(jié)合使用，以更深入地分析樣品。
 

　　飛行時(shí)間質(zhì)譜儀的使用方法：
 

　　1.準(zhǔn)備樣品：準(zhǔn)備待測(cè)物質(zhì)的樣品，并將其放入樣品室。
 

　　2.建立電離源：將電離源與質(zhì)譜儀連接，打開電離源并進(jìn)行初始化。
 

　　3.確定碎片采集時(shí)間：設(shè)定質(zhì)譜儀的碎片采集時(shí)間，以便實(shí)現(xiàn)采集數(shù)據(jù)的效果。
 

　　4.啟動(dòng)掃描：開始掃描樣品，并記錄數(shù)據(jù)。
 

　　5.分析數(shù)據(jù)：將數(shù)據(jù)輸入計(jì)算機(jī)中，通過(guò)專業(yè)軟件進(jìn)行分析，從而得出分析結(jié)果。
 

　　6.校準(zhǔn)儀器：定期校準(zhǔn)飛行時(shí)間質(zhì)譜儀，以確保其精度和準(zhǔn)確性。
 

　　7.整理報(bào)告：整理分析結(jié)果，生成相應(yīng)的報(bào)告，向用戶提供分析數(shù)據(jù)。